DRX - IPCMS

Plateforme de diffraction des rayons X
Domaine Physique, Chimie

La plateforme

  • Directeur-trice de la plateforme
    Marc LENERTZ
  • UMR 7504 - IPCMS / Institut de physique et chimie des matériaux de Strasbourg
  • CNRS, UNIVERSITE DE STRASBOURG
  • Cronenbourg Schiltigheim
  • Monosite
  • Prestations de services
    • à la communauté académique
    • au monde socio-économique
  • Collaborations de recherche
    • avec la communauté académique
    • au monde socio-économique

Certifications et accréditations

Missions

La plateforme de Diffraction de Rayons X de l'IPCMS est dédiée à l'étude structurale des matériaux cristallins. Elle met à disposition de ses utilisateurs différents types de diffractomètres pour qu'ils puissent caractériser leurs matériaux sous forme de poudres, couches minces et monocristaux. Elle propose également la caractérisation de ce type de matériaux sous forme de prestation de service.
La plateforme apporte un soutien technique et scientifique allant de la réalisation des expériences à l'exploitation des données pour en extraire les informations pertinentes telles que l'identification des phases présentes, la détermination des paramètres de mailles, la mesure des tailles des cristallites, la résolution de la structure cristalline, la détermination des contraintes résiduelles, l’identification d’une texturation, la mesure d’épaisseur des couches minces, la détermination de relations d'épitaxie, etc.

Expertises

Expertise scientifique

  • Caractérisation structurale
  • Affinement par méthode Rietveld
  • Mesure d’épaisseur de films minces
  • Identification de phases
  • Relation d’épitaxie
  • Texturation
  • Tailles de cristallites
  • Diffraction anomale
  • Contraintes résiduelles
  • Matériaux cristallins

Expertise technique

  • Diffraction couches minces
  • Diffraction poudre
  • Diffraction monocristal
  • Développement de scripts/logiciels en Python
  • Mesure de diffraction en température
  • Réflectométrie
  • Diffraction haute résolution
  • Diffraction des rayons X
  • Alignement diffractomètre
  • Alignement monochromateur
  • Radioprotection

Ressources

Principaux équipements

  • Diffractomètre Haute résolution Smartlab Rigaku dédié aux couches minces : Géométrie faisceau parallèle ou Bragg Brentano, Radiation Cu, Monochromateur Ge 220 2X, 5 cercles, détecteur ponctuel ou linéaire
  • Diffractomètre poudre Haute résolution Bruker D8 Discover pour les matériaux polycristallins : Géométrie Bargg-Brentano, monochromateur, Radiation Cu (Mo en option), mesure en température en option -185 °C à 600 °C, passeur d'échantillons
  • Nonius Kappa CCD pour la diffraction monocristal : Géométrie Kappa, Radiation Mo, mesure en température de -185°C à 30°C)
  • Diffractomètre poudre Haute résolution Bruker D8 Advance : Géométrie Bargg-Brentano (transmission en option), monochromateur, Radiation Cu

Ressources logicielles / bases de données

  • ICDD PDF4+ (anciennement JCPDS) : Base de données de structures cristallographiques et autres informations relatives à la diffraction
  • Diffrac.Eva : Logiciel de traitement des données de diffraction poudre
  • GlobalFit : Logiciel d'affinement des mesures de réflectométrie (XRR)
  • FullProf : Logiciel de résolution et d'affinement des données de diffraction poudre
  • Olex : Logiciel de résolution et d'affinement des données de diffraction monocristal
  • Crystallography Open Database (COD) : Base de donnée de structure cristallographiques et autres informations relatives à la diffraction

Autres types de ressources

  • Station de travail

Exemples de prestations de service

  • Diagramme de diffraction de rayon X sans traitement des données
  • Identification de phases cristallines par DRX
  • Mesure de réflectométrie avec détermination des épaisseurs et des rugosités aux interfaces sur film mince
  • Mesure de tailles de cristallites par DRX
  • Mesures de contraintes résiduelles par DRX
  • Etude de changement de phase par thermodiffraction sur poudre
  • Résolution de structure cristalline

Partenaires récents