MEB-Cro

Plate-forme de Microscopie Électronique à Balayage du campus de Cronenbourg
Domaine

La plateforme

  • Directeur-trice de la plateforme
    Thierry DINTZER
  • Directeur-trice scientifique
    Thomas COTTINEAU
  • Directeur-trice technique
    Cédric LEUVREY
  • UMR 7504 - IPCMS / Institut de physique et chimie des matériaux de Strasbourg, UMR 7515 - ICPEES / Institut de chimie et procédés pour l'énergie, l'environnement et la santé
  • CNRS, UNIVERSITE DE STRASBOURG
  • Cronenbourg Schiltigheim
  • Distribuée
  • Prestations de services
    • à la communauté académique
    • au monde socio-économique
  • Collaborations de recherche
    • avec la communauté académique
    • au monde socio-économique

Certifications et accréditations

Documents de la plateforme

Missions

La plateforme MEB-Cro dispose de trois microscopes électroniques à balayage dédiés à la caractérisation des matériaux. Sa spécialité, axée originellement autour des matériaux inorganiques, s'étant aujourd'hui aux matériaux 'mous' tels que les polymères et les matériaux hybrides ou organo-métalliques. Sa mission principale est donc d'offrir des prestations grâce à une polyvalence dans les observations afin de couvrir le champ d'étude des matériaux le plus large possible: des plus faibles aux plus fortes tensions de travail, des plus faibles aux plus forts grandissements, des matériaux conducteurs aux isolants, des matériaux inorganiques à ceux issus du vivant.

Expertises

Expertise scientifique

  • Caractérisation morphologique multi-matériaux: matériaux métalliques, céramiques, polymères, semi-conducteurs, organiques analyse chimique élémentaire
  • Cartographie X
  • Analyse qualitative et/ou quantitative
  • Caractérisation de structures tridimensionnelles

Expertise technique

  • Imagerie haute résolution sur matériaux conducteur et non-conducteurs
  • Analyse chimique élémentaire et cartographie X
  • Travail à très faible tension
  • Imagerie 3D par tomo-MEB

Ressources

Principaux équipements

  • Microscope électronique à balayage (MEB) au tungstène Tescan Vega 3
  • Polisseur ionique (Cross-polisher) Hitachi IM4000
  • Microscope électronique à balayage à effet de champ (MEB-FEG) avec porte-échantillons STEM Zeiss GeminiSEM 500 + microanalyse EDX Edax
  • Microscope électronique à balayage à effet de champ (MEB-FEG) avec porte-échantillons STEM Jeol 6700F + microanalyse EDX Bruker

Autres locaux

  • Laboratoire LB07 de MEB, climatisé et protégé des UV, batiment R1 N1 de l'ECPM
  • Laboratoire LB05 de MEB et préparation pour MEB, climatisé et protégé des UV, batiment R1 N1 de l'ECPM
  • Laboratoire 0036 de MEB climatisé et protégé des UV, IPCMS
  • Laboratoire de préparation pour MEB, IPCMS (évaporateurs C et Au) + microscopie optique
  • Laboratoire de préparation pour MEB, IPCMS (évaporateur Ir)

Ressources logicielles / bases de données

  • Logiciel SmartSEM de contrôle du MEB-FEG Zeiss GeminiSEM500
  • Logiciel ATLAS de reconstruction 3D ou production d'images géantes
  • Logiciel STRATAGem d'analyse de couches minces

Projets collaboratifs récents