Detail

The core facility

Plate-forme de Microscopie Électronique à Balayage du campus de Cronenbourg

Head Manager of the core facility Thierry DINTZER
Scientifical Manager Thomas COTTINEAU
Technical Manager Cédric LEUVREY

UMR 7504 - IPCMS / Institut de physique et chimie des matériaux de Strasbourg, UMR 7515 - ICPEES / Institut de chimie et procédés pour l'énergie, l'environnement et la santé
CNRS, UNIVERSITE DE STRASBOURG

Website of the core facility

Cronenbourg Schiltigheim
Distribuée

Service delivery
- to the academic community
- to the socio-economic world

Collaborations of research
- with the academic community
- to the socio-economic world

Affiliated institution of administrative supervision

CNRS
UNIVERSITE DE STRASBOURG

La plateforme MEB-Cro dispose de trois microscopes électroniques à balayage dédiés à la caractérisation des matériaux. Sa spécialité, axée originellement autour des matériaux inorganiques, s'étant aujourd'hui aux matériaux 'mous' tels que les polymères et les matériaux hybrides ou organo-métalliques. Sa mission principale est donc d'offrir des prestations grâce à une polyvalence dans les observations afin de couvrir le champ d'étude des matériaux le plus large possible: des plus faibles aux plus fortes tensions de travail, des plus faibles aux plus forts grandissements, des matériaux conducteurs aux isolants, des matériaux inorganiques à ceux issus du vivant.

Access website

Certifications and accreditations

Core facility documents

Expertises

Scientific expertise

Caractérisation morphologique multi-matériaux: matériaux métalliques, céramiques, polymères, semi-conducteurs, organiques analyse chimique élémentaire
Cartographie X
Analyse qualitative et/ou quantitative
Caractérisation de structures tridimensionnelles

Technical expertise

Imagerie haute résolution sur matériaux conducteur et non-conducteurs
Analyse chimique élémentaire et cartographie X
Travail à très faible tension
Imagerie 3D par tomo-MEB

Resources

Main equipments

Microscope électronique à balayage (MEB) au tungstène Tescan Vega 3
Polisseur ionique (Cross-polisher) Hitachi IM4000
Microscope électronique à balayage à effet de champ (MEB-FEG) avec porte-échantillons STEM Zeiss GeminiSEM 500 + microanalyse EDX Edax
Microscope électronique à balayage à effet de champ (MEB-FEG) avec porte-échantillons STEM Jeol 6700F + microanalyse EDX Bruker

Other kinds of rooms

Laboratoire LB07 de MEB, climatisé et protégé des UV, batiment R1 N1 de l'ECPM
Laboratoire LB05 de MEB et préparation pour MEB, climatisé et protégé des UV, batiment R1 N1 de l'ECPM
Laboratoire 0036 de MEB climatisé et protégé des UV, IPCMS
Laboratoire de préparation pour MEB, IPCMS (évaporateurs C et Au) + microscopie optique
Laboratoire de préparation pour MEB, IPCMS (évaporateur Ir)

Software resources / Data bases

Logiciel SmartSEM de contrôle du MEB-FEG Zeiss GeminiSEM500
Logiciel ATLAS de reconstruction 3D ou production d'images géantes
Logiciel STRATAGem d'analyse de couches minces

Recent collaborative projects

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